آنالیزهای  سطح   و     لایه   نازک

برهم کنش بین ذرات باردار با لایه نازک

برهم کنش بین پرتو ایکس با لایه نازک

برهم کنش بین پرتو نور  با    لایه نازک


میکروسکوپ الکترونی روبشی  SEM

میکروسکوپ الکترونی عبوری    TEM

میکروسکوپ پروبی روبشی      SPM

میکروسکوپ پروبی روبشی      AFM

میکروسکوپ روبشی تونلینگ    STM

آنالیز  سطح و لایه به روش  SIMS

آنالیز سطح و لایه به روش    RBS

آنالیز سطح و لایه به روش    XRD

آنالیز سطح و لایه به روش    XPS
 
آنالیزطیفی به روش بیضی سنجی

آنالیزطیفی به روش اسپکتروفتومتر

لایه نشانی  و   پارامترهای  آن

ساختار        تشکیل           لایه

روش تفنگ الکترونی    E_Beam Gun
 
درباره                            خلاء

پمپ روتاری          Rotary Pump

پمپ توربومولکولارTurbomolecular

پمپ کرایوجنیک  Cryojenic Pump 

پمپ دیفیوژن      Diffusion Pump

تاریخچه فشارسنج های  نخستین

فشارسنجهای محدوده خلاء پایین

فشارسنج یونی  کاتد سرد و  گرم

کنترل ضخامت

ضخامت سنجی اپتیکی

ضخامت سنجی کریستالیQCM

Plasma Enhanced Deposition

                               لايه نشاني PECVD

 يکی از روش­هاي مورد نياز برای انجام لايه نشانی در فناوری ليزرها، سامانه لايه نشاني PECVD است كه اغلب برای انباشت اکسيدها و نيتريدها استفاده می­شود. لايه نشاني در يك راكتور با درجه حرارت حدود 400 درجه سلسيوس صورت گرفته و پلاسماي ايجاد شده، انرژي مورد نياز براي واكنش را (حتی در يك دماي به مقدارکم400-250 درجه) به میزان دلخواه افزايش مي­دهد.
در این سیستم kنسبت به حالت سنتی، یک منبع تولید پلاسما به سیستم اضافه شده است. یکی دیگر از مزایای عمده این روش کاهش دمای انباشت نسبت به روش های معمولی می باشد در حالیکه به واسطه انرژی پشتیبان حاصل از پلاسما که به مولکول های گاز وارد می شود، کمبود انرژی جنبشی جبران می شود.
همان طور که در شکل1، مشخص است تفاوت اصلی، افزوده شدن یک مولد رادیو فرکانس برای تولید پلاسما است.


شكل1): الف- سامانه لايه نشاني استاندارد ب- سیستم های PECVD تک ویفری عمودی  


گاهی اوقات ممكن است كه از دو چشمه پلاسما در سیستم CVD استفاده شود. استفاده از دو چشمه پلاسما موجب می شود که چگالی پلاسما و انرژی یون به صورت مستقل تنظیم شوند. به عنوان مثال مبدل 13.56مگا هرتز، چگالی پلاسما و مبدل فرکانس پایین 350 کیلو هرتز، انرژی یون ها را تعیین می کنند. سیستم های PECVD مطابق شكل2، مي تواند ساختار افقي داشته باشد.    


 شكل2): نماي شماتيك از يك سامانه PECVD افقی  

خواص اكسيدها و نيتريد سيليكن انباشت شده با اين روش كاملاً با موارد به­ دست آمده از روش LPCVD كه در دماهاي بالاتر انجام مي­شود متفاوت است. اين خواص شامل سختي سطح و استوكيومتري است كه در نتيجه منجر به تغييرات در صافي سطح، ثابت دي­الكتريك و ضريب شكست و غيره مي­شود.
در جدول 1 متداول ترین واکنش های شیمیایی مورد نیاز برای ساخت بعضی از لایه های فیزیکی و شیمیایی آمده است. در جدول1 شرايط مختلف براي لايه نشاني هاي لايه هاي  آمده است. در اين جدول گازهاي مورد نياز براي تشكيل لايه، نوع سامانه لايه نشاني شيميايي، نوع تركيب و درجه حرارت مورد نياز آمده است.  

جدول1: شرايط لايه نشاني براي تشكيل لايه هاي متداول  
    

منبع : کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانو ساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی، انتشارات مرکز نشر دانشگاهی

فیلم آموزشی در مورد روش PECVD

توضیحات بیشتر توسط آقای مهندس ابوالحسن علیمرادی