6/8/2023 8:01:58 PM
پارسی (Persian)
English (English)
- صفحه اصلی
لایه نشانی
ساختار لایه
ضخامت سنجی
روشهای فیزیکی PVD
اسپاترینگ
روش MBE
تفنگ الکترونی
مقاومتی
روشهای شیمیاییCVD
CVD
MOCVD
PECVD
تمیزکاری نمونه
تمیزکاری چیست؟
آماده سازی داخلی
تمیزکاری شیشه
تمیزکاری ویفر سیلیکون
خلاء
پمپ های خلاء
پمپ روتاری
پمپ کرایوجنیک
پمپ توربومولکولار
پمپ دیفیوژن
فشارسنج خلاء
گیجهای یونی
گیج پیرانی
تاریخچه گیج خلاء
آنالیز
آنالیز پرتو باردار
برهمکنش الکترونی
میکروسکوپ الکترونی
میکروسکوپ TEM
SEM
آنالیز RBS
آنالیز SIMS
آنالیزپرتوایکس
آنالیز XRD
آنالیز XPS
آنالیزپرتو نور
آنالیزSpectrophotometery
آنالیزEllipsometer
میکروسکوپهای روبشی
درباره میکروسکوپهای SPM
میکروسکوپ روبشیAFM
میکروسکوپ روبشیSTM
میکروسکوپ روبشیSNOM
نرم افزارآنالیز
دانلود
فیلم آموزشی
فیلم در یوتیوب
کتاب
سایتهای مرتبط
معرفی کتب
کتب الکترونیکی
دانشگاههای ایران
سایتهای علمی
سمینارها
شرکتهای معتبر
شرکتهای معتبرداخلی
شرکت معتبر خارجی
لایه نشانی
شرکت اپتیکی
شرکت خلاء
ارتباط با ما
نظرات شما
فرم عضویت
ارسال فایل
درباره ما
Spectrophotometer
آناليز اسپکتروفتومتر
روش اندازه گيري علمي كه بوسيله آن مي توان، شدت نور عبوري، جذبي و بازتابي توسط مواد مختلف را اندازه گيري نمود، اسپكتروسكوپي ناميده مي شود و دستگاهي كه از اين تكنيك براي اندازه گيري شدت نور استفاده مي كند، اسپكتروفتومتر نام دارد.
به عبارتي ديگر، اسپكتروفتومتر يك روش كمي است كه براي آناليز برهم كنش نور با اتم هاي ماده هدف بكار مي رود. از آنجا كه طيف عبوري و يا جذبي يك ماده (همانند اثر انگشت)، منحصر به فقط يك ماده (يا تركيب) مي باشد، بنابراين مي توان از اين تكنيك، براي مطالعه و شناسايي مواد مورد نظر نيز استفاده نمود.
وقتي نور به ماده اي مي تابد، انرژي هاي (يا رنگهاي) مشخصي از نور ممكن است توسط ماده جذب شوند و ديگر رنگ ها ممكن است عبور يا بازتاب شوند. مانند منشور كه مطابق شكل1، نور برخوردي به آن به نورهاي مختلف تبديل مي شود. اين به دليل آن است كه ضريب شكست منشور براي طول موجهاي مختلف(رنگ هاي مختلف) متفاوت است.
شكل1:
نورسفید برخوردي به منشور به نورهاي مختلف رنگی تبديل مي شود.
به طور مشابه، براي بازه كل امواج الكترومغناطيسي، مي توان از منشورهاي مختلف و يا توري هاي پراش استفاده نمود.
شكل2، به صورت شماتيك يكي از چيدمان هاي اپتيكي با استفاده از منشور را نشان مي دهد. چشمه نور L بعد از برخورد به لنز به شكاف مي رسد كه در روي صفحه كانوني لنز موازي ساز قرار گرفته است. نور موازي شده عبوري، سپس به منشور برخورد كرده و تحت زاويه پراكنده مي شود كه به طول موج وابسته است. لنز در نهايت تصوير حاصل از نور عبوري از شكاف را روي صفحه كانوني لنز تشكيل مي دهد.
مكانx(λ) مربوط به اين تصوير ، تابعي از طول موج است. پراكندگي خطي به پراكندگي طيفي (كه به نوع منشور به كار رفته مربوط مي شود) و طول كانوني مربوط به لنز بستگي دارد.
شكل2:
جداسازي خطوط طيفي با استفاده از منشور
البته امروزه، مطابق شكل3، به جاي منشور، معمولا" از توري پراش براي جداسازي خطوط طيفي استفاده مي شود. در اين دستگاه ها ، لنزهاي و جاي خود را به دو آينه و مي دهند.
شكل 3:جداسازي خطوط طيفي با استفاده از توري پراش
بايد بخاطر سپرد كه دامنه نور خيلي وسيع تر از محدوده نورهاي رنگي قابل مشاهده است. بدين معني كه علاوه بر نورهاي رنگي، نور داراي محدوده وسيعي از طول موجها، شامل امواج گاما، پرتو ايكس، ناحيه ماوراء بنفش، ناحيه مادون قرمز، ميكرو موجها و امواج راديويي مي باشد. در نتيجه نوري كه ما مي بينيم تركيبي از رنگهاي مختلفي است كه توسط نمونه جذب نشده اند. اگر ماده هيچ جذبي نداشته باشد آن ممكن است به صورت سفيد يا بي رنگ باشد. به عبارتي ساده تر، نوع رنگ يك نمونه بواسطه نور خاصي است كه نمونه جذب و يا عبور مي دهد. شكل4، يكي از دستگاه هاي اسپكتروفتومتر را نشان مي دهد كه براي ناحيه UV ، VISIBLE و IR بكار مي رود. در شكل هاي5 و6، مي توان بعضي از طيف هاي اندازه گيري شده توسط اين دستگاه را براي لايه هاي فلزي نقره و طلا مشاهده نمود.
شكل4،نمونه ای ازدستگاه های اسپكتروفتومتر – ساخت شرکت shimadzu
شكل5:طيف بازتابی لايه فلزي نقره اندازه گيري شده با دستگاه اسپكتروفتومتر
شكل6:طيف بازتابی لايه فلزي طلا اندازه گيري شده با دستگاه اسپكتروفتومتر
منبع : کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانو ساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی، انتشارات مرکز نشر دانشگاهی
فیلم آموزشی دربارهSpectrophotometer
«
آنالیزهای
سطح و
لایه نازک
برهم کنش بین ذرات باردار
با لا
یه نازک
برهم کنش بین
پرتو ایکس
با
لایه نازک
برهم کنش بین
پرتو نور
با لایه نازک
میکروسکوپ الکترونی
روبشی
SEM
میکروسکوپ الکترونی عبوری
TEM
میکروسکوپ پروبی روبشی
SPM
میکروسکوپ پروبی روبشی
AFM
میکروسکوپ روبشی تونلینگ
STM
آ
نالیز سطح و لایه به روش
SIMS
آ
نالیز
سطح و لایه به روش RBS
آنالیز
سطح و لایه به روش XRD
آنالیز
سطح و لایه به روش XPS
آ
نالیزطیفی به روش بیضی سنجی
آنالیز
طیفی به روش اسپکتروفتومتر
لایه نشانی و پارامترهای آن
ساختار تشکیل لایه
روش
تفنگ الکترونی E_Beam Gun
روش
تبخیر
مقاومتی Resistant Ev
روش
کندوپاش Sputtering
لایه نشانی به روش
لیرزی PLD
لایه نشانی به روش
MBE
لایه نشانی شیمیایی CVD
لایه نشانی شیمیایی
PECVD
لایه نشانی شیمیایی
MOCVD
درباره خلاء
پمپ روتاری Rotary Pump
پمپ توربومولکولارTurbomolecular
پمپ کرایوجنیک Cryojenic Pump
پمپ
دیفیوژن Diffusion Pump
تاریخچه فشارسنج های نخستین
فشارسنجهای محدوده خلاء پایین
فشارسنج یونی
کاتد سرد و گرم
کنترل ضخامت
ضخامت سنجی اپتیکی
ض
خامت سنجی کریستالی
QCM
منبع علمی: کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانوساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی کلیه حقوق مادی و معنوی متعلق به Thin film science می باشد.